设备编号

20071358

数量

1台

型    号

SSA-4200

规格

出产日期

            2007.01                                                                                                                                                                                                                                                

制造商

 北京彼奥德电子技术有限公司

管 理 员

陈久福

管理员电话

15284820830

所属部门

化学与环境实验中心

放置地点(校区、楼名、房号)

汇南

第二实验楼二区

4111

设备介绍

      SSA-4200比表面积及孔径分析仪工作原理为国际通用的静态容量法，全程计算机自动控制，无需人工监测，可同时进行最多两个样品的分析。

主要性能指标

分析方法: 静态容量法
  测试数据:   比表面积下限优于0.01m²/g
  微孔分析：0.35-2nm;介孔分析：2-50nm;大孔分析：50-500nm
  分析精度:   重复性误差小于±1.5%
  分析口数量：2个
  样品管体积:   10mL
  吸附气体:   氮气、氢气、氪气、一氧化碳、二氧化碳、甲烷等
  样品前处理:   独立的样品制备站（脱气站）

送样要求

送检样品可为粉末状、块状。粉末样品需要量大于0.5g。

服务领域

可用在固体催化剂、防毒过滤的吸附剂、建筑材料用的水泥、陶瓷、钢铁冶炼及粉末冶金工业中的原料、化学电源的电极、地质石油岩层等固体粉末或多孔物质的生产和研究工作中。

典型测试用途

  　BET比表面积/吸附及脱附等温线/BJH孔体积分析/孔面积分析/总孔容积/总孔面积/   Langmuir法比表面积分析。

主要功能

　　仪器可进行单点、多点BET比表面积、BJH孔分布、孔大小及总孔体积和面积、平均孔大小等的多种数据分析，其比表面分析范围为0.01m²/g   至无已知上限，孔径分析范围为0.35-500nm，可满足多种工况环境条件下的实验需求。  

备    注